Título :	Pulido electrolítico para observación metalográfica
Autor(es):	María del Rosario de los Santos Méndez
Clasificación DDC:	TS 669.95028 s237p
Fecha de publicación :	mar-1992
Editorial :	Facultad de Química
Facultad:	Facultad de Química
Programa académico:	Químico Metalúrgico
Resumen:	El uso del microscopio óptico para los propósitos de controlo industrial fue apreciado, y la metalografía óptica 5e convirtió en la herramienta más importante del metalurgista. Después de 1900, la consistencia del conocimiento sobre la microestructura continúo creciendo y los avances anteriores se fueron consolidada. Por 1920 fueron reconocidas totalmente las limitaciones de la técnica, se reconoció el peligro de introducir enmascaramientos y se había establecido a la metalografía Óptica como una parte necesaria de cualquier programa de desarrollo.El siguiente mayor avance tecnológico que el aumentó de información estructural disponibles para el metalurgista Tué el desarrollo y aplicación de difracción de Rayos X. Sin embargo, mientras que el análisis de rayos X, pudiera dar información directa sobre la estructura "en bulto”, de (dos metales y aleaciones promediada de volúmenes grandes, normalmente no podría dar información sobre aquellas regiones pequeñas del metal que por lo regular controlan las propiedades mecánicas
URI:	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8304
Aparece en:	Histórico

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