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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_ES
dc.contributorEduardo Hurtado Delgadoes_ES
dc.creatorMaría del Rosario de los Santos Méndezes_ES
dc.date1992-03-
dc.date.accessioned2023-05-23T21:45:16Z-
dc.date.available2023-05-23T21:45:16Z-
dc.date.issued1992-03-
dc.identifier.urihttps://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8304-
dc.descriptionEl uso del microscopio óptico para los propósitos de controlo industrial fue apreciado, y la metalografía óptica 5e convirtió en la herramienta más importante del metalurgista. Después de 1900, la consistencia del conocimiento sobre la microestructura continúo creciendo y los avances anteriores se fueron consolidada. Por 1920 fueron reconocidas totalmente las limitaciones de la técnica, se reconoció el peligro de introducir enmascaramientos y se había establecido a la metalografía Óptica como una parte necesaria de cualquier programa de desarrollo.El siguiente mayor avance tecnológico que el aumentó de información estructural disponibles para el metalurgista Tué el desarrollo y aplicación de difracción de Rayos X. Sin embargo, mientras que el análisis de rayos X, pudiera dar información directa sobre la estructura "en bulto”, de (dos metales y aleaciones promediada de volúmenes grandes, normalmente no podría dar información sobre aquellas regiones pequeñas del metal que por lo regular controlan las propiedades mecánicases_ES
dc.formatAdobe PDFes_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherFacultad de Químicaes_ES
dc.relation.requiresNoes_ES
dc.rightsAcceso Abiertoes_ES
dc.subject.ddcTS 669.95028 s237pes_ES
dc.titlePulido electrolítico para observación metalográficaes_ES
dc.typeTesises_ES
dc.contributor.roleAsesor de tesises_ES
dc.degree.nameQuímico Metalúrgicoes_ES
dc.degree.departmentFacultad de Químicaes_ES
dc.degree.levelLicenciaturaes_ES
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