Title:	Pulido Electrolítico para observación Metalográfica
metadata.dc.creator:	María del Rosario de los Santos Méndez
metadata.dc.date:	Mar-1992
Publisher:	Facultad de Ciencias Químicas
Description:	El uso del microscopio óptico para los propósitos de controlo industrial fue apreciado, y la metelografía óptica 5e convirtió en la herramienta mas importante del metalurgista. Después de 1900, la consistencia del conocimiento sobre la microestructura continuo creciendo y los avances anteriores se fueron consolidandea. Por 1920 fueron reconocidas totalmente las limitaciones de la técnica, se reconoció el peligro de introducir enmascaramientos y se había establecido a la metalografia Optica como una perte necesaria de cualquier programa de desarrollo. El siguiente mayor avance tecnológico que aumentó el grada de información estructural disponibles para el metalurgista Tué el desarrollo y aplicación de difracción de Rayos X. Sin embargo, mientras que el análisis de rayos X, pudiera dar información directa sobre la estructura "en bulto”, de (dos metales y aleaciones promediada de volúmenes grandes, normalmente no podria dar información sobre aquellas regiones pedueñas del metal que por lo regular controlan las propiedades mecánicas.
URI:	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8304
Appears in Collections:	Digitalizados (respaldo)

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