Título :	Síntesis química de sal de polianilina mediante el método de polimerización oxidativa
Autor(es):	Martín Carpio Medina
Palabras clave:	Polianilina Resistividad eléctrica Radiación UV
Fecha de publicación :	mar-2017
Editorial :	Universidad Autónoma de Querétaro
Facultad:	Facultad de Ingeniería
Programa académico:	Ingeniería en Nanotecnología
Resumen:	El creciente avance tecnológico en las áreas de dispositivos electrónicos, recubrimientos antioxidantes y celdas solares se caracteriza por desarrollar materiales cuyas propiedades físicas y químicas sean adecuadas para la aplicación en la vida cotidiana. El campo de los polímeros ha sido uno de los más explotados en las últimas décadas, debido a que las propiedades físicas y químicas de estos materiales son amplias, se considera que estos materiales poseen potencial aplicación. En los últimos años, los polímeros conductores de electricidad han sido parte fundamental en la investigación de materiales con propiedades eléctricas adecuadas que sirvan como recubrimiento de superficies. La conductividad de los polímeros conductores es la propiedad que los catapulta como materia de partida en el desarrollo de sensores químicos, baterías y películas anticorrosivas. Sin embargo, para desarrollar cualquier dispositivo que utilice polímeros conductores es necesario determinar la resistividad de esos materiales en una forma adecuada. El presente estudio describe el proceso de deposición química de un polímero conductor eléctrico, constituido de sal de Polianilina en fase esmeraldina (PANI-ES) dopada con ácido p-toluensulfónico (ATS), sobre una superficie de vidrio; además, se menciona la medición de resistividad eléctrica del material utilizando el método de dos puntas con radiación ultravioleta y sin radiación. Los resultados del estudio presentado permiten declarar que se obtuvieron deposiciones de un material polimérico conductor de electricidad cuya resistividad disminuye en un orden de magnitud al ser expuesto a radiación ultravioleta. Para las mediciones eléctricas del material se utilizó un equipo de dos puntas aplicando una diferencia de potencial eléctrico equivalente a 10 V y que además cuenta con un óhmetro de amplio rango de medición, al conocer las dimensiones de la muestra se determinó la resistividad del material. Para la caracterización se realizaron pruebas de Espectroscopía UV-Vis, Espectroscopía Infrarrojo con la técnica Reflectancia Total Atenuada (FTIR-RTA), Calorimetría diferencial de barrido (DSC), Análisis termogravimétrico (TGA), Difracción de rayos X (XRD). Para la medición del espesor del depósito del material sobre sustratos de vidrio se utilizó Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Para determinar la morfología del material se realizaron pruebas de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM).
URI:	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/6059
Otros identificadores :	3165 - RI004706.pdf
Aparece en:	Ingeniería en Nanotecnología

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