Título :	"Evaluación del acoplamiento de semiconductores en forma de película delgada para su aplicación en dispositivos de confort térmico"
Autor(es):	David Fuentes Molina
Palabras clave:	Ingeniería y Tecnología Química Química Física
Fecha de publicación :	1-ene-2023
Editorial :	Ingeniería
Facultad:	Facultad de Ingeniería
Programa académico:	Ingeniería en Nanotecnología
Resumen:	Los óxidos de vanadio tienen una amplia gama de aplicaciones como catalizadores, materiales electrónicos, ópticos, entre otros. El presente estudio trata sobre la formación y estudio de recubrimientos de óxidos de vanadio sobre un sustrato de vidrio, que se obtuvieron mediante la ablación láser de un blanco de vanadio metálico de alta pureza. Las muestras obtenidas presentaron una mezcla de óxidos de vanadio, identificando mediante las técnicas de espectroscopía Raman y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, las fases de dióxido de vanadio, pentóxido de vanadio y posiblemente nanotubos de óxido de vanadio. Al observar las muestras mediante microscopía óptica y electrónica de barrido se presentaron agujas y barras, además que el recubrimiento no era uniforme en todo el sustrato. La transmitancia de la radiación electromagnética de las muestras se modificó y al calcular el ancho de banda prohibida se encontraron dos valores correspondientes a lo reportado para el sustrato (vidrio) y para pentóxido de vanadio, confirmando la presencia de este óxido y la discontinuidad del recubrimiento. Es posible mejorar las condiciones de formación de los materiales presentados para aplicaciones específicas con la ventaja que la ablación láser permite emplear una variedad de materiales como blancos.
URI:	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8622
Aparece en:	Ingeniería en Nanotecnología

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