Título :	Método de mitigación de armónicos y no linealidades causadas por semiconductores de alta velocidad en micro-red eléctrica mediante algoritmos inteligentes
Autor(es):	Julio Arturo Caudillo Olmedo
Palabras clave:	Ciencias Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra Matemáticas Electrónica
Fecha de publicación :	16-jun-2023
Editorial :	Ingeniería
Facultad:	Facultad de Ingeniería
Programa académico:	Maestría en Ciencias (Mecatrónica)
Resumen:	Hoy en día no se puede concebir el mundo sin energía eléctrica de potencia. Fuentes de alimentación, variadores de velocidad de motores, cargas de alumbrado fluorescente, convertidores de potencia, entre otros, son utilizados a diario en el sector empresarial y en los hogares. El crecimiento en el uso y demanda de estos equipos, ha traído consigo un problema para la distribución y consumo de electricidad conocido como armónicos de corriente eléctrica. Este disturbio, causante de malformaciones en la señal eléctrica, es originado por los equipos electrónicos que consumen energía eléctrica de forma “no lineal” o no continua en el tiempo, por ejemplo, semi conductores de alta velocidad y fuentes conmutadas. Esta distorsión es compuesta por elementos conocidos como armónicos. La presencia de estos armónicos se puede medir gracias a la Distorsión Armónica total (Total Harmonic Distortion) o THD. Este trabajo de tesis presenta una nueva metodología para la detección, clasificación y mitigación de disturbios armónicos conforme a la norma internacional IEC 61000-1. Esta metodología es basada en el uso e integración de la Transformada Rápida de Fourier (FFT) y una red neuronal artificial para la clasificación de los dos parámetros más importantes de los armónicos, amplitud y fase. Con el uso de una micro-red eléctrica y tres cargas principales: resistiva, semi conductora e inductiva, se desarrollaron más de 200 pruebas con el fin de demostrar la eficiencia de la metodología propuesta. Dicha metodología demuestra una eficiencia de entre 45% y 57% al mitigar los disturbios armónicos causados por las cargas conectadas a la micro-red.
URI:	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8372
Aparece en:	Maestría en Ciencias (Mecatrónica)

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