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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0es_ES
dc.contributorLuis Morales Velázquezes_ES
dc.creatorJulio Arturo Caudillo Olmedoes_ES
dc.date2023-06-16-
dc.date.accessioned2023-05-30T17:24:04Z-
dc.date.available2023-05-30T17:24:04Z-
dc.date.issued2023-06-16-
dc.identifier.urihttps://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8372-
dc.descriptionHoy en día no se puede concebir el mundo sin energía eléctrica de potencia. Fuentes de alimentación, variadores de velocidad de motores, cargas de alumbrado fluorescente, convertidores de potencia, entre otros, son utilizados a diario en el sector empresarial y en los hogares. El crecimiento en el uso y demanda de estos equipos, ha traído consigo un problema para la distribución y consumo de electricidad conocido como armónicos de corriente eléctrica. Este disturbio, causante de malformaciones en la señal eléctrica, es originado por los equipos electrónicos que consumen energía eléctrica de forma “no lineal” o no continua en el tiempo, por ejemplo, semi conductores de alta velocidad y fuentes conmutadas. Esta distorsión es compuesta por elementos conocidos como armónicos. La presencia de estos armónicos se puede medir gracias a la Distorsión Armónica total (Total Harmonic Distortion) o THD. Este trabajo de tesis presenta una nueva metodología para la detección, clasificación y mitigación de disturbios armónicos conforme a la norma internacional IEC 61000-1. Esta metodología es basada en el uso e integración de la Transformada Rápida de Fourier (FFT) y una red neuronal artificial para la clasificación de los dos parámetros más importantes de los armónicos, amplitud y fase. Con el uso de una micro-red eléctrica y tres cargas principales: resistiva, semi conductora e inductiva, se desarrollaron más de 200 pruebas con el fin de demostrar la eficiencia de la metodología propuesta. Dicha metodología demuestra una eficiencia de entre 45% y 57% al mitigar los disturbios armónicos causados por las cargas conectadas a la micro-red.es_ES
dc.formatAdobe PDFes_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherIngenieríaes_ES
dc.relation.requiresSies_ES
dc.rightsAcceso Abiertoes_ES
dc.subjectCiencias Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierraes_ES
dc.subjectMatemáticases_ES
dc.subjectElectrónicaes_ES
dc.titleMétodo de mitigación de armónicos y no linealidades causadas por semiconductores de alta velocidad en micro-red eléctrica mediante algoritmos inteligenteses_ES
dc.typeTesis de maestríaes_ES
dc.creator.tidCVUes_ES
dc.contributor.tidcurpes_ES
dc.creator.identificador1103683es_ES
dc.contributor.identificadorMOVL810326HGTRLS01es_ES
dc.contributor.roleDirectores_ES
dc.degree.nameMaestría en Ciencias (Mecatrónica)es_ES
dc.degree.departmentFacultad de Ingenieríaes_ES
dc.degree.levelMaestríaes_ES
Aparece en: Maestría en Ciencias (Mecatrónica)

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