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https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/9601
Registro completo de metadatos
Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
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dc.rights.license | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | es_ES |
dc.contributor | Luis Rodrigo Valencia Pérez | es_ES |
dc.contributor | José Salvador Echeverría Villagómez | es_ES |
dc.contributor | Arturo Castañeda Olalde | es_ES |
dc.contributor | Juan José Méndez Palacios | es_ES |
dc.contributor | Martha July Mora Haro | es_ES |
dc.creator | Juan Gabriel Lugo Luévano | es_ES |
dc.date | 2023-09-28 | - |
dc.date.accessioned | 2023-11-06T16:36:34Z | - |
dc.date.available | 2023-11-06T16:36:34Z | - |
dc.date.issued | 2023-09-28 | - |
dc.identifier.uri | https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/9601 | - |
dc.description | Describe aspectos generales de la metrología, sus diferentes campos de aplicación y el rol de los institutos nacionales de metrología (INM) de la región de Latinoamérica. El enfoque del estudio se centra en el análisis de la gestión y planeación tecnológica en los INM, con el objetivo de identificar y proponer áreas de oportunidad y/o herramientas metodológicas que promuevan y faciliten el desarrollo tecnológico orientado a identificar y cubrir necesidades y retos en el ámbito industrial, que, a su vez, deriven en beneficios y prosperidad para la sociedad. Para ello, se investigaron diversas metodologías y herramientas de planeación tecnológica existentes, que se complementaron con las experiencias y conocimientos aplicados en México, particularmente en el ámbito de la metrología industrial. Como resultado se propone, como una estrategia, la implementación sistematizada de la planeación tecnológica en los INM, para el desarrollo tecnológico y de servicios especializados en la ciencia de las mediciones, a partir del conocimiento de las necesidades y de los retos de los usuarios en el contexto de cadenas de valor. | es_ES |
dc.format | Adobe PDF | es_ES |
dc.language.iso | spa | es_ES |
dc.publisher | Universidad Autónoma de Querétaro | es_ES |
dc.relation.requires | No | es_ES |
dc.rights | Acceso Abierto | es_ES |
dc.subject | Ingeniería y Tecnología | es_ES |
dc.subject | Ciencias Tecnológicas | es_ES |
dc.subject | Procesos Tecnológicos | es_ES |
dc.title | Plan tecnológico en Institutos Nacionales de Metrología de Latinoamérica, Caso México | es_ES |
dc.type | Tesis de maestría | es_ES |
dc.creator.tid | ORCID | es_ES |
dc.contributor.tid | ORCID | es_ES |
dc.creator.identificador | 0009-0001-1734-4323 | es_ES |
dc.contributor.identificador | 0000-0002-1590-5000 | es_ES |
dc.contributor.role | Director | es_ES |
dc.contributor.role | Secretario | es_ES |
dc.contributor.role | Vocal | es_ES |
dc.contributor.role | Suplente | es_ES |
dc.contributor.role | Suplente | es_ES |
dc.degree.name | Maestría en Gestión de la Tecnología | es_ES |
dc.degree.department | Facultad de Contaduría y Administración | es_ES |
dc.degree.level | Maestría | es_ES |
Aparece en: | Maestría en Gestión de la Tecnología |
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Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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