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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nd/4.0es_ES
dc.contributorEric Leonardo Huerta Manzanillaes_ES
dc.creatorJesus Esqueda Buenrostroes_ES
dc.date2018-04-
dc.date.accessioned2019-03-02T03:48:30Z-
dc.date.available2019-03-02T03:48:30Z-
dc.date.issued2018-04-
dc.identifier.urihttp://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/1184-
dc.description"Este trabajo propone dosmétodosde pruebas de vida acelerada (ALT) para incrementar de forma efectiva la reproducción de modos de falla, enfocándose en las variaciones de tensión eléctrica que se presentan en los suministros de los hogares, en la validación de componentes electrónicos de lavadoras domésticas; de tal manera quecuando el productoes liberado a producción, se hayan detectados y corregidos los modos de falla potenciales que afecten su funcionamiento durante su vida útil.La metodología y procedimientos de prueba que actualmente son usados para la validación de los productos, sólo integran a la tensión eléctrica nominal y estable (120V±10V) como mecanismos de falla, pero no logran reproducir las condiciones reales a las que son expuestos en el mercado mexicano. Por lo anterior, no se tiene una evaluación confiable que asegure que, bajo las condiciones reales de campo, las lavadoras son capaces de presentar buen desempeño en su ciclo normal de vida.Losmétodos deprueba propuestosestánbasadosen conceptos de confiabilidad aplicada, tales como las pruebas ALT (prueba de vida acelerada) y ADT (prueba de degradación acelerada), las cuales tienen como objeto reducir tiempos de evaluación asegurando la inclusión de mecanismos de falla y parámetros de prueba adecuados. Los métodos mencionados constan de una prueba de envejecimiento a la tarjeta electrónica de la lavadora en donde se incluyeron factores tales como humedad, temperatura y tensión eléctrica como mecanismos de desgaste; y como prueba complementaria se desarrolló una prueba ADT que incluye como mecanismos de falla las variaciones en tensión eléctrica, ángulo de posición de la tarjeta, y solución líquida conductora para entender las afectaciones del fenómeno “arco eléctrico” en el diseño de las tarjetas electrónicas.El diseño de las pruebas ALT y ADT, se realizó utilizando técnicas estadísticas para determinar las condiciones idóneas en donde se llevarían a cabo los procedimientos. En la metodología se incluyeron análisis estadísticos descriptivos, así como un diseño de experimentos 2², y un experimento posterior basado en análisis de Superficie de Respuesta quedando como un Diseño Central 5Compuesto. Lo anterior definió condiciones y parámetros de prueba ideales para reproducción oportuna de modos de falla. Finalmente se plantean los métodos de prueba propuestoscomo documentos oficiales para su aplicación en pruebas de vida de tarjetas electrónicas de lavadoras en todos los diseños desarrollados por la empresa."es_ES
dc.description"This paper proposes twoaccelerated life test methods (ALTand ADT)in order to increase an effective failure modes reproduction during test, specifically focusing on voltage variations that mayoccur in electric supplies of households, also in the validation of electronic components of domestic washing machines;in such a way that when the productis released to production, all potential failure modes, affecting its operation during its useful life, havebeen detected and corrected.The methodology and test procedures that are currently used for the validation of products, only integratefailure mechanisms such as the voltage rating and stable (120V±10V), which fails to reproduce the actual conditions found in the Mexican market. Therefore, you cannot have a reliable assessment that ensures that even with actual field conditions, washing machines are able to present good performance in its lifecycle withusers. The proposed test methods are based on the application of reliability concepts, such are ALT (accelerated life test) and ADT (accelerated life test), which are intended to reduce evaluation time ensuring the inclusion of appropriate test parameters and failure mechanismsin the washer’s design. The mentioned methods consist of an aging test to the electronic board of the washer where we included factors such as humidity, temperature and voltage as mechanisms of wear; and as further proof developed a test ADT that includes,as failure mechanisms,variations in voltage, angle position of the electronic board, and conductive liquid solution to understand theeffects of the phenomenon of “electric arc”in the design of electronic boards.For the design of ALT and ADT tests, it was needed the use of statistical techniques to determine the conditions for carrying out the procedures. Descriptive statistical analysis, as well as a design of experiments 2², and a subsequent experiment based on analysis of response surface and as a Central composite design wereincluded in the methodology. The above was used to define test conditions and ideal test parameters in order to increase the reproduction of failure mode in reasonably time. 7Finally, the test methods proposed, definedas official documents,are in use for electronic board life testing of washing machines in all the designs developed by the company."es_ES
dc.formatAdobe PDFes_ES
dc.language.isoEspañoles_ES
dc.relation.requiresSies_ES
dc.rightsAcceso Abiertoes_ES
dc.subjectALTes_ES
dc.subjectADTes_ES
dc.subjectconfiabilidades_ES
dc.subjectmecanismo de fallaes_ES
dc.subjectmodo de fallaes_ES
dc.subjectdiseño de experimentoses_ES
dc.subjecttarjeta electrónicaes_ES
dc.subjectarco eléctricoes_ES
dc.subjectlavadoraes_ES
dc.subject.classificationINGENIERÍA Y TECNOLOGÍAes_ES
dc.titleCalidad de tensión eléctrica como parámetro esencial en reproducción de modos de falla durante pruebas de vida en lavadoras domésticas.es_ES
dc.typeTesis de maestríaes_ES
dc.creator.tidcurpes_ES
dc.contributor.tidcurpes_ES
dc.creator.identificadorEUBJ810908HQTSNS05es_ES
dc.contributor.identificadorHUME620603HVZRNR00es_ES
dc.degree.nameMaestría en Ingeniería de Calidad y Productividades_ES
dc.degree.departmentFacultad de Ingenieríaes_ES
dc.degree.levelMaestríaes_ES
Aparece en: Maestría en Ingeniería de Calidad y Productividad

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