Plan tecnológico en Institutos Nacionales de Metrología de Latinoamérica, Caso México

Juan Gabriel Lugo Luévano

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dc.rights.license	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0	es_ES
dc.contributor	Luis Rodrigo Valencia Pérez	es_ES
dc.contributor	José Salvador Echeverría Villagómez	es_ES
dc.contributor	Arturo Castañeda Olalde	es_ES
dc.contributor	Juan José Méndez Palacios	es_ES
dc.contributor	Martha July Mora Haro	es_ES
dc.creator	Juan Gabriel Lugo Luévano	es_ES
dc.date	2023-09-28
dc.date.accessioned	2023-11-06T16:36:34Z
dc.date.available	2023-11-06T16:36:34Z
dc.date.issued	2023-09-28
dc.identifier.uri	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/9601
dc.description	Describe aspectos generales de la metrología, sus diferentes campos de aplicación y el rol de los institutos nacionales de metrología (INM) de la región de Latinoamérica. El enfoque del estudio se centra en el análisis de la gestión y planeación tecnológica en los INM, con el objetivo de identificar y proponer áreas de oportunidad y/o herramientas metodológicas que promuevan y faciliten el desarrollo tecnológico orientado a identificar y cubrir necesidades y retos en el ámbito industrial, que, a su vez, deriven en beneficios y prosperidad para la sociedad. Para ello, se investigaron diversas metodologías y herramientas de planeación tecnológica existentes, que se complementaron con las experiencias y conocimientos aplicados en México, particularmente en el ámbito de la metrología industrial. Como resultado se propone, como una estrategia, la implementación sistematizada de la planeación tecnológica en los INM, para el desarrollo tecnológico y de servicios especializados en la ciencia de las mediciones, a partir del conocimiento de las necesidades y de los retos de los usuarios en el contexto de cadenas de valor.	es_ES
dc.format	Adobe PDF	es_ES
dc.language.iso	spa	es_ES
dc.publisher	Universidad Autónoma de Querétaro	es_ES
dc.relation.requires	No	es_ES
dc.rights	Acceso Abierto	es_ES
dc.subject	Ingeniería y Tecnología	es_ES
dc.subject	Ciencias Tecnológicas	es_ES
dc.subject	Procesos Tecnológicos	es_ES
dc.title	Plan tecnológico en Institutos Nacionales de Metrología de Latinoamérica, Caso México	es_ES
dc.type	Tesis de maestría	es_ES
dc.creator.tid	ORCID	es_ES
dc.contributor.tid	ORCID	es_ES
dc.creator.identificador	0009-0001-1734-4323	es_ES
dc.contributor.identificador	0000-0002-1590-5000	es_ES
dc.contributor.role	Director	es_ES
dc.contributor.role	Secretario	es_ES
dc.contributor.role	Vocal	es_ES
dc.contributor.role	Suplente	es_ES
dc.contributor.role	Suplente	es_ES
dc.degree.name	Maestría en Gestión de la Tecnología	es_ES
dc.degree.department	Facultad de Contaduría y Administración	es_ES
dc.degree.level	Maestría	es_ES