"Evaluación del acoplamiento de semiconductores en forma de película delgada para su aplicación en dispositivos de confort térmico"

David Fuentes Molina

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dc.rights.license	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0	es_ES
dc.contributor	Luis Alejandro Martínez Chávez	es_ES
dc.creator	David Fuentes Molina	es_ES
dc.date	2023-01-01
dc.date.accessioned	2023-06-12T15:46:36Z
dc.date.available	2023-06-12T15:46:36Z
dc.date.issued	2023-01-01
dc.identifier.uri	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8622
dc.description	Los óxidos de vanadio tienen una amplia gama de aplicaciones como catalizadores, materiales electrónicos, ópticos, entre otros. El presente estudio trata sobre la formación y estudio de recubrimientos de óxidos de vanadio sobre un sustrato de vidrio, que se obtuvieron mediante la ablación láser de un blanco de vanadio metálico de alta pureza. Las muestras obtenidas presentaron una mezcla de óxidos de vanadio, identificando mediante las técnicas de espectroscopía Raman y espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, las fases de dióxido de vanadio, pentóxido de vanadio y posiblemente nanotubos de óxido de vanadio. Al observar las muestras mediante microscopía óptica y electrónica de barrido se presentaron agujas y barras, además que el recubrimiento no era uniforme en todo el sustrato. La transmitancia de la radiación electromagnética de las muestras se modificó y al calcular el ancho de banda prohibida se encontraron dos valores correspondientes a lo reportado para el sustrato (vidrio) y para pentóxido de vanadio, confirmando la presencia de este óxido y la discontinuidad del recubrimiento. Es posible mejorar las condiciones de formación de los materiales presentados para aplicaciones específicas con la ventaja que la ablación láser permite emplear una variedad de materiales como blancos.	es_ES
dc.format	Adobe PDF	es_ES
dc.language.iso	spa	es_ES
dc.publisher	Ingeniería	es_ES
dc.relation.requires	No	es_ES
dc.rights	Acceso Abierto	es_ES
dc.subject	Ingeniería y Tecnología	es_ES
dc.subject	Química	es_ES
dc.subject	Química Física	es_ES
dc.title	"Evaluación del acoplamiento de semiconductores en forma de película delgada para su aplicación en dispositivos de confort térmico"	es_ES
dc.type	Tesis de licenciatura	es_ES
dc.creator.tid	curp	es_ES
dc.contributor.tid	curp	es_ES
dc.creator.identificador	FUMD980912HQTNLV09	es_ES
dc.contributor.identificador	MACL940308HQTRHS12	es_ES
dc.contributor.role	Director	es_ES
dc.degree.name	Ingeniería en Nanotecnología	es_ES
dc.degree.department	Facultad de Ingeniería	es_ES
dc.degree.level	Licenciatura	es_ES