Método de mitigación de armónicos y no linealidades causadas por semiconductores de alta velocidad en micro-red eléctrica mediante algoritmos inteligentes

Julio Arturo Caudillo Olmedo

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dc.rights.license	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0	es_ES
dc.contributor	Luis Morales Velázquez	es_ES
dc.creator	Julio Arturo Caudillo Olmedo	es_ES
dc.date	2023-06-16
dc.date.accessioned	2023-05-30T17:24:04Z
dc.date.available	2023-05-30T17:24:04Z
dc.date.issued	2023-06-16
dc.identifier.uri	https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8372
dc.description	Hoy en día no se puede concebir el mundo sin energía eléctrica de potencia. Fuentes de alimentación, variadores de velocidad de motores, cargas de alumbrado fluorescente, convertidores de potencia, entre otros, son utilizados a diario en el sector empresarial y en los hogares. El crecimiento en el uso y demanda de estos equipos, ha traído consigo un problema para la distribución y consumo de electricidad conocido como armónicos de corriente eléctrica. Este disturbio, causante de malformaciones en la señal eléctrica, es originado por los equipos electrónicos que consumen energía eléctrica de forma “no lineal” o no continua en el tiempo, por ejemplo, semi conductores de alta velocidad y fuentes conmutadas. Esta distorsión es compuesta por elementos conocidos como armónicos. La presencia de estos armónicos se puede medir gracias a la Distorsión Armónica total (Total Harmonic Distortion) o THD. Este trabajo de tesis presenta una nueva metodología para la detección, clasificación y mitigación de disturbios armónicos conforme a la norma internacional IEC 61000-1. Esta metodología es basada en el uso e integración de la Transformada Rápida de Fourier (FFT) y una red neuronal artificial para la clasificación de los dos parámetros más importantes de los armónicos, amplitud y fase. Con el uso de una micro-red eléctrica y tres cargas principales: resistiva, semi conductora e inductiva, se desarrollaron más de 200 pruebas con el fin de demostrar la eficiencia de la metodología propuesta. Dicha metodología demuestra una eficiencia de entre 45% y 57% al mitigar los disturbios armónicos causados por las cargas conectadas a la micro-red.	es_ES
dc.format	Adobe PDF	es_ES
dc.language.iso	spa	es_ES
dc.publisher	Ingeniería	es_ES
dc.relation.requires	Si	es_ES
dc.rights	Acceso Abierto	es_ES
dc.subject	Ciencias Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra	es_ES
dc.subject	Matemáticas	es_ES
dc.subject	Electrónica	es_ES
dc.title	Método de mitigación de armónicos y no linealidades causadas por semiconductores de alta velocidad en micro-red eléctrica mediante algoritmos inteligentes	es_ES
dc.type	Tesis de maestría	es_ES
dc.creator.tid	CVU	es_ES
dc.contributor.tid	curp	es_ES
dc.creator.identificador	1103683	es_ES
dc.contributor.identificador	MOVL810326HGTRLS01	es_ES
dc.contributor.role	Director	es_ES
dc.degree.name	Maestría en Ciencias (Mecatrónica)	es_ES
dc.degree.department	Facultad de Ingeniería	es_ES
dc.degree.level	Maestría	es_ES