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dc.rights.license http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 es_ES
dc.contributor Eduardo Hurtado Delgado es_ES
dc.creator María del Rosario de los Santos Méndez es_ES
dc.date 1992-03
dc.date.accessioned 2023-05-23T21:45:16Z
dc.date.available 2023-05-23T21:45:16Z
dc.date.issued 1992-03
dc.identifier.uri https://ri-ng.uaq.mx/handle/123456789/8304
dc.description El uso del microscopio óptico para los propósitos de controlo industrial fue apreciado, y la metalografía óptica 5e convirtió en la herramienta más importante del metalurgista. Después de 1900, la consistencia del conocimiento sobre la microestructura continúo creciendo y los avances anteriores se fueron consolidada. Por 1920 fueron reconocidas totalmente las limitaciones de la técnica, se reconoció el peligro de introducir enmascaramientos y se había establecido a la metalografía Óptica como una parte necesaria de cualquier programa de desarrollo.El siguiente mayor avance tecnológico que el aumentó de información estructural disponibles para el metalurgista Tué el desarrollo y aplicación de difracción de Rayos X. Sin embargo, mientras que el análisis de rayos X, pudiera dar información directa sobre la estructura "en bulto”, de (dos metales y aleaciones promediada de volúmenes grandes, normalmente no podría dar información sobre aquellas regiones pequeñas del metal que por lo regular controlan las propiedades mecánicas es_ES
dc.format Adobe PDF es_ES
dc.language.iso spa es_ES
dc.publisher Facultad de Química es_ES
dc.relation.requires No es_ES
dc.rights Acceso Abierto es_ES
dc.subject.ddc TS 669.95028 s237p es_ES
dc.title Pulido electrolítico para observación metalográfica es_ES
dc.type Tesis es_ES
dc.contributor.role Asesor de tesis es_ES
dc.degree.name Químico Metalúrgico es_ES
dc.degree.department Facultad de Química es_ES
dc.degree.level Licenciatura es_ES


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